Физика полупроводников. Лекция 3
- Физика полупроводников. Лекция 3
- §2. Связь уровня химического потенциала с концентрацией равновесных носителей заряда в невырожденных полупроводниках.
- §3. Концентрация равновесных носителей заряда в собственных невырожденных полупроводниках.
- §4. Концентрация равновесных носителей заряда в невырожденных полупроводниках с одним типом мелких примесных центров и низких температурах.
- §5. Концентрация равновесных носителей заряда в невырожденных полупроводниках с одним типом примесных уровней при высоких температурах.
- §6. Концентрация равновесных носителей заряда в полупроводниках с двумя типами примесных центров и их полной компенсации.
- §7. Равновесная концентрация носителей заряда в частично компенсированных невырожденных полупроводниках.
- §8. Условие перехода полупроводника в вырожденное состояние и равновесная концентрация носителей заряда в полностью вырожденном полупроводнике.
Очевидно, число электронов в кристалле единичного объема, занимающих состояния с энергиями в интервале от до будет равно:
Сначала будем рассматривать случай когда :
В данном случае электронный газ в зоне проводимости подчиняется классической статистике Максвелла. Классическая статистика описывает процессы при не высоких концентрациях электронов (электронный газ). Полупроводники, у которых равновесные носители заряда подчиняются статистике Максвелла, называются невырожденными. Условие должно выполняется всех энергий электрона, в том числе и для минимальных энергий , т.е. , отсюда следует, что в невырожденных полупроводниках уровень химического потенциала лежит ниже дна зоны проводимости на величину не меньшую .
Очевидно, концентрация всех электронов будет равна:
Так как под знаком интеграла стоит функция с быстро убывающей энергией, то верхний придел интегрирования можно заменить на бесконечность, тогда:
— эффективная плотность состояний в зоне проводимости, численно равная концентрации электронов в зоне проводимости, при условии, что уровень совпадает с дном проводимости. Аналогично можно получить выражение для концентрации дырок в невырожденном полупроводнике:
— эффективная плотность состояний в валентной зоне.
Выражение (3) и (4) верны как для чистого, так и легированного примесями полупроводника. В выражениях (3) и (4) уровень отслеживает легирование мелкими примесями. В данном полупроводнике уровень одинаков в (3) и (4).